In-Situ microscopy in materials research / Gai, Pratibha L.

Public ISBD ຊື່ປື້ມ : In-Situ microscopy in materials research : Leading international research 15 electron and scanning probe microscopies ປະເພດເອກະສານ : ທີ່ພິ້ນໄດ້ ຜູ້ຂຽນ : Gai, Pratibha L., ຜູ້ຈັດພິມ (ວິທະຍາສາດ) ຜູ້ຈັດພິມ : Boston : Kluwer Academic Publishers ວັນທີ່ຂອງການພິມອອກຈຳໜ່າຍ : 1997 ຈຳນວນໜ້າ : 336 p ຮູບແບບ : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-7923-9989-6 ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Electron microscopy Materials-microscopy Scanning probe microscopy ເລກໝວດເອກະສານ : 620.1127 GAI ບັນເນື້ອຫາ : Includes bibliographical references and index In-Situ microscopy in materials research : Leading international research 15 electron and scanning probe microscopies [ທີ່ພິ້ນໄດ້] / Gai, Pratibha L., ຜູ້ຈັດພິມ (ວິທະຍາສາດ) . - Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997 . - 336 p ; 24 cm. ISBN : 978-0-7923-9989-6 ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Electron microscopy Materials-microscopy Scanning probe microscopy ເລກໝວດເອກະສານ : 620.1127 GAI ບັນເນື້ອຫາ : Includes bibliographical references and index

ການຈອງ

ຈອງເອກະສານນີ້

Exemplaires(1)

Barcode	Call number	Media type	Location	Section	ສະຖານະ
UCL07654	620.1127 GAI	ປຶ້ມ/book	ຫໍສະໝຸດກາງ ມຊ	600 (ຊັັ້ນ 2 - ຕຶກເກົ່າ)	ຫວ່າງ

Reflection Electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Wang Zhong Lin

Public ISBD ຊື່ປື້ມ : Reflection Electron microscopy and spectroscopy for surface analysis ປະເພດເອກະສານ : ທີ່ພິ້ນໄດ້ ຜູ້ຂຽນ : Wang Zhong Lin, ນັກຂຽນ ຜູ້ຈັດພິມ : Cambridge; Cambridge University press ວັນທີ່ຂອງການພິມອອກຈຳໜ່າຍ : 1996 ຈຳນວນໜ້າ : 436 p ຮູບແບບ : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-521-48266-0 ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Surfaces (Technology) -- Analysis ເລກໝວດເອກະສານ : 620.44 ບັນເນື້ອຫາ : Includes bibliographical references and index Reflection Electron microscopy and spectroscopy for surface analysis [ທີ່ພິ້ນໄດ້] / Wang Zhong Lin, ນັກຂຽນ . - Cambridge; Cambridge University press, 1996 . - 436 p ; 26 cm. ISBN : 978-0-521-48266-0 ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Surfaces (Technology) -- Analysis ເລກໝວດເອກະສານ : 620.44 ບັນເນື້ອຫາ : Includes bibliographical references and index

ການຈອງ

ຈອງເອກະສານນີ້

Exemplaires(1)

Barcode	Call number	Media type	Location	Section	ສະຖານະ
UCL23789	620.44 WAN	ປຶ້ມ/book	ຫໍສະໝຸດກາງ ມຊ	600 (ຊັັ້ນ 2 - ຕຶກເກົ່າ)	ຫວ່າງ

Transmission electron Microscopy II / Williams, David B.

Public ISBD ຊື່ປື້ມ : Transmission electron Microscopy II : Diffraction ປະເພດເອກະສານ : ທີ່ພິ້ນໄດ້ ຜູ້ຂຽນ : Williams, David B., ນັກຂຽນ ຜູ້ຈັດພິມ : New York : Plenum Press ວັນທີ່ຂອງການພິມອອກຈຳໜ່າຍ : 1996 ຈຳນວນໜ້າ : 345 p. ການສະເໜີ : ill. ຮູບແບບ : 28 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-306-45247-5 ການບັນທຶກທົ່ວໄປ : Includes index ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Transmision electron microscopy ເລກໝວດເອກະສານ : 502.825 Transmission electron Microscopy II : Diffraction [ທີ່ພິ້ນໄດ້] / Williams, David B., ນັກຂຽນ . - New York : Plenum Press, 1996 . - 345 p. : ill. ; 28 cm. ISBN : 978-0-306-45247-5 Includes index ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Transmision electron microscopy ເລກໝວດເອກະສານ : 502.825

ການຈອງ

ຈອງເອກະສານນີ້

Exemplaires(1)

Barcode	Call number	Media type	Location	Section	ສະຖານະ
UCL07674	502.825 WIL	ປຶ້ມ/book	ຫໍສະໝຸດກາງ ມຊ	500 (ຊັັ້ນ 2 - ຕຶກເກົ່າ)	ຫວ່າງ

---

1 (1 - 3 / 3) Par page : 25 50 100 200