Transmission electron Microscopy II / Williams, David B.

Public ISBD ຊື່ປື້ມ : Transmission electron Microscopy II : Diffraction ປະເພດເອກະສານ : ທີ່ພິ້ນໄດ້ ຜູ້ຂຽນ : Williams, David B., ນັກຂຽນ ຜູ້ຈັດພິມ : New York : Plenum Press ວັນທີ່ຂອງການພິມອອກຈຳໜ່າຍ : 1996 ຈຳນວນໜ້າ : 345 p. ການສະເໜີ : ill. ຮູບແບບ : 28 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-306-45247-5 ການບັນທຶກທົ່ວໄປ : Includes index ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Transmision electron microscopy ເລກໝວດເອກະສານ : 502.825 Transmission electron Microscopy II : Diffraction [ທີ່ພິ້ນໄດ້] / Williams, David B., ນັກຂຽນ . - New York : Plenum Press, 1996 . - 345 p. : ill. ; 28 cm. ISBN : 978-0-306-45247-5 Includes index ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Transmision electron microscopy ເລກໝວດເອກະສານ : 502.825

ການຈອງ

ຈອງເອກະສານນີ້

Exemplaires(1)

Barcode	Call number	Media type	Location	Section	ສະຖານະ
UCL07674	502.825 WIL	ປຶ້ມ/book	ຫໍສະໝຸດກາງ ມຊ	500 (ຊັັ້ນ 2 - ຕຶກເກົ່າ)	ຫວ່າງ

---

1 (1 - 1 / 1) Par page : 25 50 100 200