ຊື່ປື້ມ :	In-Situ microscopy in materials research : Leading international research 15 electron and scanning probe microscopies
ປະເພດເອກະສານ :	ທີ່ພິ້ນໄດ້
ຜູ້ຂຽນ :	Gai, Pratibha L., ຜູ້ຈັດພິມ (ວິທະຍາສາດ)
ຜູ້ຈັດພິມ :	Boston : Kluwer Academic Publishers
ວັນທີ່ຂອງການພິມອອກຈຳໜ່າຍ :	1997
ຈຳນວນໜ້າ :	336 p
ຮູບແບບ :	24 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-0-7923-9989-6
ພາສາ :	ອັງກິດ (eng)
ປະເພດ :	Electron microscopy Materials-microscopy Scanning probe microscopy
ເລກໝວດເອກະສານ :	620.1127 GAI
ບັນເນື້ອຫາ :	Includes bibliographical references and index

In-Situ microscopy in materials research : Leading international research 15 electron and scanning probe microscopies [ທີ່ພິ້ນໄດ້] / Gai, Pratibha L., ຜູ້ຈັດພິມ (ວິທະຍາສາດ) . - Boston : Kluwer Academic Publishers, 1997 . - 336 p ; 24 cm.
ISBN : 978-0-7923-9989-6
ພາສາ : ອັງກິດ (eng)

ປະເພດ :	Electron microscopy Materials-microscopy Scanning probe microscopy
ເລກໝວດເອກະສານ :	620.1127 GAI
ບັນເນື້ອຫາ :	Includes bibliographical references and index