Reflection Electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Wang Zhong Lin

Public ISBD ຊື່ປື້ມ : Reflection Electron microscopy and spectroscopy for surface analysis ປະເພດເອກະສານ : ທີ່ພິ້ນໄດ້ ຜູ້ຂຽນ : Wang Zhong Lin, ນັກຂຽນ ຜູ້ຈັດພິມ : Cambridge; Cambridge University press ວັນທີ່ຂອງການພິມອອກຈຳໜ່າຍ : 1996 ຈຳນວນໜ້າ : 436 p ຮູບແບບ : 26 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-521-48266-0 ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Surfaces (Technology) -- Analysis ເລກໝວດເອກະສານ : 620.44 ບັນເນື້ອຫາ : Includes bibliographical references and index Reflection Electron microscopy and spectroscopy for surface analysis [ທີ່ພິ້ນໄດ້] / Wang Zhong Lin, ນັກຂຽນ . - Cambridge; Cambridge University press, 1996 . - 436 p ; 26 cm. ISBN : 978-0-521-48266-0 ພາສາ : ອັງກິດ (eng) ປະເພດ : Materials-microscopy Surfaces (Technology) -- Analysis ເລກໝວດເອກະສານ : 620.44 ບັນເນື້ອຫາ : Includes bibliographical references and index

ການຈອງ

ຈອງເອກະສານນີ້

Exemplaires(1)

Barcode	Call number	Media type	Location	Section	ສະຖານະ
UCL23789	620.44 WAN	ປຶ້ມ/book	ຫໍສະໝຸດກາງ ມຊ	600 (ຊັັ້ນ 2 - ຕຶກເກົ່າ)	ຫວ່າງ

---

1 (1 - 1 / 1) Par page : 25 50 100 200